泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度儀的詳細(xì)資料：

泰勒霍普森便攜式粗糙度儀測(cè)量能力

參數(shù)覆蓋：支持 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt 等基礎(chǔ)粗糙度參數(shù)，以及 Rq（均方根值）、Rsk（偏斜度）、Rku（峰度）等進(jìn)階參數(shù)，共 11 項(xiàng)參數(shù)滿足不同行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（如 ISO 4287、ASME B46.1）。

測(cè)量范圍：Ra 可達(dá) 40μm，Rz/Rv/Rp/Rt 可達(dá) 199μm，分辨率 0.01μm，精度為讀數(shù)的 5% + 0.1μm，噪聲水平低至 0.02μm。

傳感器技術(shù)：采用壓電式傳感器和 5μm 金剛石測(cè)針，耐磨性強(qiáng)，適合長期高頻次使用。

設(shè)計(jì)與操作

分體式結(jié)構(gòu)：顯示控制單元與驅(qū)動(dòng)單元通過藍(lán)牙無線連接，可分離使用，便于測(cè)量深孔、曲面等復(fù)雜位置（如內(nèi)徑 70mm 的孔或倒置表面）。

直觀界面：2.4 英寸彩色 LCD 屏幕實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果及輪廓圖形，支持三種顯示模式（參數(shù) + 圖形、純參數(shù)、大字體參數(shù)）。

一鍵測(cè)量：簡化操作流程，單次測(cè)量僅需按下按鈕，結(jié)果自動(dòng)計(jì)算并顯示。

泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度儀

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